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imec公布制程蓝图:摩尔定律转向,2038年挑战0.3纳米

荷兰半导体研究机构imec公布最新工艺路线图,宣告先进芯片演化重心将有大转变。未来将不再局限于“单纯缩小晶体管尺寸”,而是全面转向标准单元面积缩放、垂直集成及系统层级(如供电与散热)优化。

imec预测,到2038年半导体制程可推进至A3(0.3纳米)世代。然而,接近1纳米世代的A10(约2030年)之后,接触栅极间距(CPP)的微缩将遭遇瓶颈,芯片密度提升将高度依赖全新架构与先进封装集成。

imec研发副总裁Julien Ryckaert表示,半导体产业现已进入纳米片(Nanosheet)时代,并将持续朝“埃”(Angstrom)级前进。路线图指出,A14级工艺预计2028年出现,CPP将缩至约45纳米、标准单元高度降至约115纳米,并在此阶段导入高数值孔径极紫外(High-NA EUV)光刻设备。

imec并指出,CPP在2030~2031年登场的A10节点将开始出现缩放停滞。A10到A5世代,CPP将大致维持在42纳米,代表业界无法再以传统栅极微缩大幅提升密度。

为了突破微缩瓶颈,imec将CFET(互补式场效应晶体管)视为2030年代初的关键候选方案。约2033年登场的A7节点,虽然CPP仍停滞在42纳米,但采用p型与n型晶体管“纵向堆叠”的CFET技术,标准单元高度可成功降至约80纳米。

▲纳米片(Nanosheet)架构(搭配叉片设计)将从2纳米一路沿用至A10节点;之后A7及更先进工艺,将全面交棒给CFET架构。(来源:imec)

到了2035~2038年的A5与A3阶段,imec预测将发展出实现纵向堆叠与键合(Bonding)的CFET结构。若要达成A3节点约39纳米CPP与50纳米单元高度目标,除了纵向集成,更可能需要仰赖Hyper-NA EUV等超高数值孔径光刻技术。

imec强调,评估未来技术时,芯片密度不再单看晶体管尺寸缩放,而是取决于“标准单元面积”(单元高度×CPP)的下降幅度。面对AI工作负载成为半导体需求主力的趋势,imec提出“异构大规模集成”(HLSI)概念,未来系统将高度结合逻辑芯片、存储器、供电、光学I/O与先进3D/2.5D封装。为此,imec建立“跨技术协同优化”(XTCO)框架,试图打破技术壁垒,将各项组件纳入同个系统层级全面优化。

Ryckaert指出,晶体管纵向集成与多芯片封装已成为业界常态,供电设计与散热将成为未来最严峻的技术瓶颈。包含背面供电网络(BSPDN)及封装内部的集成电压调节器(IVR)等新兴技术,都必须在系统层级协同优化,以确保在不增加功耗开销的前提下,持续提升整体芯片的算力密度与能效。

imec最新路线图清楚显示,尽管传统以“缩小晶体管”为核心的摩尔定律面临严峻挑战,但以标准单元面积缩减、CFET纵向集成,与先进封装及系统级协同优化多管齐下,半导体的逻辑密度在未来十数年内依然将保持强劲的增长动能。(文章来源:科技新报)

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