IT时代网6月19日消息,界面原子层间的皮米级形变是影响材料电子结构、光学响应及量子行为的关键结构自由度,但这类形变深埋于材料内部,长期缺乏无损、定量的观测手段。近日,上海交通大学戴庆教授联合国家纳米科学中心杨晓霞研究员、北京大学高鹏教授及苏州实验室丁峰教授等团队,发展出一种极化激元探测技术,将检测精度推进至约10皮米(万亿分之一米),相关成果登上国际学术期刊《自然》。
研究团队构建了一种基于极化激元的光学读出路径:通过光与物质相互作用形成的纳米尺度电磁模式,将原本难以直接获取的界面结构信息转化为可精确测量的光学信号,使原子层间的微小变化能够被直接观测与定量分析。这一技术打通了微观结构变化与光学测量之间的关键通道,在纳米尺度上实现了对材料内部局域结构变化的解析。
科研团队表示,这一成果不仅提升了微观测量精度,更推动了材料结构观测方式的转变——使界面形变这一长期依赖间接推断的物理量,成为可直接测量和精确分析的研究对象。随着微观尺度测量能力的持续提升,相关技术有望在量子信息、先进电子器件及新型功能材料等领域发挥更加重要的作用。
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